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平面干涉仪
球面干涉仪
软件分析系统

INF60-LP激光平面干涉仪

产品型号：INF60-LP

平面光学元件表面面型测量

  • 特点：
  • 用途：
  • 技术参数：

结构紧凑，小型化，防尘效果好


平面光学元件表面面型测量

测量方式：菲索干涉原理

通光口径：Φ60mm

测试波长：635nm(半导体激光器)

对准方式：简单两点对准

对准视场：±0.5度

平面标准镜精度：PV：λ/20

  • 四川省成都市温江区金马镇双堰路1919号联东u谷10栋
  • 028-60353190
  • yaoyuan3963@126.com

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