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平面干涉仪
球面干涉仪
软件分析系统
  • INF200V-LP
  • 未标题-8

INF200V-LP激光平面干涉仪

产品型号:INF200V-LP

中大口径光学元件平面面型精度测量
对干涉条纹进行数据分析处理,给出检验报告

  • 特点:
  • 用途:
  • 技术参数:

成像质量良好,结构简洁

立式结构

操作方便,使用简单


中大口径光学元件平面面型精度测量

对干涉条纹进行数据分析处理,给出检验报告


测量结构:斐索干涉立式结构

通光口径:Φ200mm

光源波长:632.8nm(进口氦氖激光光源)

数字CCD:1280×960

平面标准镜:材料:熔石英;PV:λ/20

对准方式:两点对准

相移方式:机械相移

对准视场:±2°